Microwave complex conductivity by using cavity perturbation technique

空洞共振器内のマイクロ波電場の強い位置やマイクロ波磁場の強い位置に微小な被測定物を挿入すると、空洞共振器の共振曲線がわずかに変化します。この変化から挿入した物質の電気伝導度や誘電率、透磁率などを求める方法が空洞共振器摂動法です（図1）。
空洞共振器摂動法(概念図)

図1 空洞共振器摂動法の概念図

　非測定物を挿入する場所（空洞内のマイクロ波電場の強い場所やマイクロ波磁場の強い場所など）や被測定物とマイクロ波電磁場の向きを制御することにより、電気伝導が異方的な低次元伝導体や直流抵抗測定が困難な粉末状物質などの電気伝導性を調べることが出来ます（図2）。北野研究室では、この方法を発展させた「マイクロ波顕微鏡」の開発にも挑戦しています。
空洞共振器摂動法(詳細)

図2 複素電気伝導度測定法の詳細

戻る